美國MEGGER S1-554絕緣電阻測(cè)試儀220V電源和電池供電數(shù)字和模擬背光顯示測(cè)試電壓從50V到5000V或10000V可變
美國MEGGER S1-554絕緣電阻測(cè)試儀
220V電源和電池供電
數(shù)字和模擬背光顯示
測(cè)試電壓從50V到5000V或10000V可變
自動(dòng)進(jìn)行I、R、PI、DAR、SV和DD測(cè)試
測(cè)試阻抗可達(dá)15 TΩ或35T（S1-1054）
輸出電流5mA
RS232和USB傳輸端口，輸出測(cè)試數(shù)據(jù)
測(cè)試數(shù)據(jù)能儲(chǔ)存在儀器中
美國MEGGER S1-554絕緣電阻測(cè)試儀
產(chǎn)品功能描述
輸入電壓: 95-240 V 50Hz
S1-554 電池壽命: 在5 kV測(cè)試電壓下連續(xù)工作6小時(shí)
S1-1054 電池壽命: 在10 kV測(cè)試電壓下連續(xù)工作4小時(shí)
S1-554 測(cè)試電壓: 50 V 到1 kV 以10V為步進(jìn)電壓, 1 kV 到5 kV 以25V為步進(jìn)電壓
S1-1054 測(cè)試電壓: 50 V 到1 kV 以10V為步進(jìn)電壓, 1 kV 到10 kV 以25V為步進(jìn)電壓
*度(23°C):
±5% 在1 TΩ范圍內(nèi)
±20% 在10 TΩ范圍內(nèi)(S1-554)
在20 TΩ范圍內(nèi)(S1-1054)
輸出電流:5 mA
S1-554 充電時(shí)間: 在5mA / 5 kV狀態(tài)下充電時(shí)間≤1.5 s / μF
S1-1054 充電時(shí)間: 在5mA / 10 kV狀態(tài)下充電時(shí)間≤3 s / μF
S1-554 放電時(shí)間: 放電從5000 V 到50 V時(shí)間為≤120ms/μF
S1-1054 放電時(shí)間: 放電從10000 V 到50 V≤250ms/μF
電容測(cè)量: 10 nF 到50 μF (取決于測(cè)試電壓)
電容測(cè)量*度(23°C): ±5% ±5 nF
電壓輸出*度(0°C 到30°C):
+4% ±10 V of nominal test voltage at 1 GΩ load
±25 V for test voltages less than 500 V
電流測(cè)試范圍: 0.01 nA 到5 mA
電流測(cè)試*度(23°C): ±5% ±0.2 nA
顯示: 3位數(shù)字/模擬顯示
抗干擾: 4mA rms @ 200 V
定時(shí)器范圍: zui高定時(shí)間99:59
內(nèi)存容量: 32kB
其他測(cè)試性能: IR、PI、DAR、SV 、DD.
傳輸接口: RS232 和USB
數(shù)據(jù)存儲(chǔ): 電壓，測(cè)試時(shí)間，泄漏電流，阻抗，電容，PI, DAR, DD
實(shí)時(shí)輸出: 能連續(xù)不斷的輸出測(cè)試電壓，電流和阻抗
尺寸: 305 x 194 x 360 mm
重量: 7.1 kg
相關(guān)產(chǎn)品
